??400A/1200V快恢復(fù)二極管模塊
作者：海飛樂技術(shù) 時間：2019-08-20 17:57
快恢復(fù)二極管模塊HFM400IDK12性能與應(yīng)用
HFM400IDK12快恢復(fù)二極管模塊，反向恢復(fù)電壓1200V，正向電流400A，低正向電壓降2.0V，快速反向恢復(fù)時間120ns。低正向壓降，開關(guān)特性好，減少電磁干擾與開關(guān)損耗，提高可靠性?？蓱?yīng)用于功率轉(zhuǎn)換器、電機驅(qū)動、逆變焊機和各種開關(guān)電源等。
快恢復(fù)二極管模塊HFM400IDK12特點
反向恢復(fù)電壓：Vrrm=1200V
低正向電壓降：VF（typ.）=2.0V
平均正向電流：IF（AV.）=200A @Tc=100℃
超快速反向恢復(fù)時間：Trr（typ.）=120ns
減少電磁干擾與開關(guān)損耗
非絕緣型封裝
快恢復(fù)二極管模塊HFM400IDK12應(yīng)用
逆變焊機
不間斷電源
開關(guān)電源
電機驅(qū)動
大功率轉(zhuǎn)換器
400A/1200V快恢復(fù)二極管模塊主要參數(shù)
400A/1200V快恢復(fù)二極管模塊電氣特性
HFM400IDK12特性曲線圖
HFM400IDK12封裝結(jié)構(gòu)與尺寸圖
快恢復(fù)二極管的過熱失效
過熱失效是指快恢復(fù)二極管工作時產(chǎn)生的功耗引起結(jié)溫升高，超過器件所允許的最高結(jié)溫Tjm，導(dǎo)致器件發(fā)生熱擊穿。過熱失效與器件的工作溫度有關(guān)。通常用一個本征溫度Tint來預(yù)測溫度升高時器件內(nèi)部的失效機理。Tint是指當(dāng)熱產(chǎn)生導(dǎo)致溫度升高時的載流子濃度ni( T)等于襯底摻雜濃度ND時的溫度。當(dāng)溫度高于Tint時，載流子濃度隨溫度按指數(shù)增長，熱產(chǎn)生成為主導(dǎo)因素。Tint與本底摻雜濃度有關(guān)，一般高壓器件(ND約為1013cm-3)的Tint要比低壓器件(ND約為1014cm-3)低得多。由于受材料、工藝等因素的影響，器件Tjm通常遠小于Tint。
由于實際器件并非工作在熱平衡狀態(tài)下，所以還需考慮器件工作模式與溫度的關(guān)系。如導(dǎo)通狀態(tài)由浪涌電流產(chǎn)生的功耗，截止?fàn)顟B(tài)由漏電流引起的功耗，反向恢復(fù)期間由高反向電壓產(chǎn)生的功耗，這些功耗均會導(dǎo)致器件的工作溫度升高，并引起溫度與電流之間出現(xiàn)正反饋，器件最終發(fā)生熱擊穿。所以，熱擊穿發(fā)生的條件是，熱產(chǎn)生的功率密度大于由器件封裝系統(tǒng)所決定的耗散功率密度。為了避免器件熱失效，通常將其工作溫度限制在Tjm以下。
過熱失效通常表現(xiàn)為器件出現(xiàn)局部熔化。如果局部溫度過高，發(fā)生在點狀區(qū)域內(nèi)，還會導(dǎo)致管芯產(chǎn)生裂紋。如果快恢復(fù)二極管的工作頻率很高，在斷態(tài)和通態(tài)之間高頻轉(zhuǎn)換，會產(chǎn)生很大的功耗，此時器件的過熱失效形貌可能會不同。隨著溫度的升高，首先是阻斷能力喪失，幾乎所有的平面終端器件都會在邊緣處發(fā)生擊穿。因此，損壞點通常位于器件的邊緣處，或至少是邊緣的一小部分。
海飛樂技術(shù)快恢復(fù)二極管模塊采用臺灣芯片及先進的工藝技術(shù)封裝，為您提供優(yōu)質(zhì)、高效的產(chǎn)品，和國外產(chǎn)品相比，我司的該款產(chǎn)品具有貨期短、性價比高等優(yōu)點。更多相關(guān)產(chǎn)品資料請聯(lián)系我司客服，我們期待您的咨詢與合作！
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